三星高容贴片电容容量偏低说明：如NP0。该材料没有衰减，因此容量偏低，如果测试条件(频率、电压等)选择正确，则会产生产品问题。

若X7R X5R Y5V

Z5U是具有老化特性的，因为产品放置时间过长会衰减，但这一过程是可逆的，当我们把产品加热到一定程度(通过居里点半，不包括加热过程时间和冷却时间)之后，再冷却大约12~24小时，测试结果准确。假如它还很低，那就需要考虑产品本身了。

世祥电子有一批送来的三星贴片电容到客户处进行测试，发现几款高容量产品型号容量偏低，高容量贴片电容型号容量为何会偏低，下面小编为大家分析一下：

第一，三星贴片电容送样容量偏低的型号如下：

0805 X5R 22UF M 10V 15pcs

C 0805 X5R 10UF K 10V 15PCS

C 0805 X5R 4.7UF K 25V 15PCS

C 0805 X7R 2.2UF K 16V 15PCS

C 0805 X5R 10UF K 16V 15PCS

C 0603 X7R 4.7UF K 16V 15PCS

C 1206 X5R 10UF K 16V 15PCS

看看客户的检测报告，客户的检测要求跟条件都是一致的，那么为什么要测试NG容值呢？MLCCCeramic材料分为ClassI(CaTiO3材料C0G,NPO等)和ClassII(BaTiO3材料X5R,X7R,Y5V等)两类，MLCC材料BaTiO3材料具有电容随时间递减的特点，即电容老化。

电容量老化是铁电陶瓷所特有的一种自然现象，具有自发偏振现象。

将陶瓷电容器加热到居里点(约150℃)以上的温度时，晶体结构发生了变化，自发极化现象消失，使其处于无负荷状态。当温度低于居里点时，逆转自发性极化将变得越来越困难，因此，测量的电容值将随时间而降低。

BaTiO3的晶体结构在低于居里点温度时发生偏移，从而导致了正电和负电的生点偏移，引起极化现象。

何谓de-aging？怎样实现de-aging？

衰老是一种可逆现象，当材料在高温条件下处于老化状态时，其分子结构就会恢复到原来的状态。物质会从老化开始又一次循环。

片式电容生产厂家推荐使用温度为150℃+0/-10℃/1hour。也就是能把产品恢复到原来的常规规格。

只有三星的MLCC产品才有老化现象？

答案是不会。任何一家厂商的ClassⅡ(BaTiO3)陶瓷电容器都会出现老化现象。这是一种自然现象。如遇此种问题，可联系世祥电子技术分析。